偏振態測量儀-上海昊量光電設備有限公司

15601689581

當前位置：主頁 > 產品展示 > 激光測量設備 > 偏振態測量儀

Product catalog

激光測量設備

查看全部

Related articles

MPROBE 50 INSITU原位薄膜厚度測量儀
原位薄膜厚度測量儀-MPROBE 50 INSITU-昊量用于測量薄膜厚度和 n&k（光學常數）的實時光學測量儀。該系統可以在高環境光下工作，因為它使用門控數據采集。

型號：MPROBE 50 INSITU 廠商性質：代理商
查看詳情
MPROBE 40 MSP微小區域薄膜厚度測量儀
微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統中同時結合顯微鏡，用于小點薄膜厚度測量。

型號：MPROBE 40 MSP 廠商性質：代理商
查看詳情
小尺寸寬帶偏振態測量儀
PolSNAP是一款緊湊的偏振測量儀，來自Hinds Instruments;公司，數據采集速率為每秒2000個樣本，從而得以每秒快速確定4個Stokes矢量。光學系統，驅動電子和檢測電子都集成在一起，因此它很容易進入你的光學設置，這樣你就可以確定你的光源或光學的偏振，對激光進行質量控制，或確定你的光學的偏振保持能力。小尺寸寬帶偏振態測量儀

型號：廠商性質：代理商
查看詳情
通訊波段偏振消光比測量儀
該消光比測試儀PEM-330采用技術制造，可實現1260～1630nm全波段測量。只需更換測試光源，無需購買多臺消光比測試儀，即可實現不同波段器件的精確測量，一機多用大大降低了儀器購置成本。該消光比測試儀具有*的消光比測試精度、偏振角測試精度，能夠測量高達50dB的消光比。通訊波段偏振消光比測量儀

型號：廠商性質：代理商
查看詳情
超寬帶偏振態測量儀
超寬帶偏振態測量儀結合了Meadowlark Optics公司*的液晶可變相位延遲器技術和偏振技術，具有超寬帶、高精度及無運動部件等特點。

型號：廠商性質：代理商
查看詳情

共 5 條記錄，當前 1 / 1 頁首頁上一頁下一頁末頁跳轉到第頁

產品中心: 激光測量設備

新聞中心
技術文章: 公司新聞; 技術文章

關于我們: 公司簡介; 人才招聘

聯系方式: 上海市徐匯區虹梅路2007號6號樓3樓; info@auniontech.com

昊量微信在線客服

昊量微信在線客服

版權所有 © 2024上海昊量光電設備有限公司備案號：滬ICP備08102787號-3 技術支持：化工儀器網管理登陸 Sitemap.xml

高清欧美少妇日本,影视无码中文少妇,高清无码久久少妇,亚洲AⅤ久久久噜噜噜噜